Т.А.Гришина, О.Д.Потапкин
ФГУДП НИИЭИО ГУП “НПО “Орион”, Москва, Россия,
Б.Н.Васичев
Московский институт электроники и математики (Технический университет), Москва, Россия
Анализируются выражения, описывающие функцию парциальной электронно-оптической прозрачности кристаллической решетки, определяемую через Фурье-компоненты поля решетки, связанные с кристаллографическими плоскостями (hkl).